Оценка надежности радиотехнических устройств при повышении температуры окружающей среды
DOI:
https://doi.org/10.5281/zenodo.18229723Ключевые слова:
надежность, алгоритм нахождения надежности, вероятность безотказной работы, радиотехнические устройстваЛицензия
Аннотация
Разработан упрощенный метод оценки показателей надежности на этапе проектирования и в процессе эксплуатации радиотехнических устройств.
Скачивания
Библиографические ссылки
1. Алексеев, В. П. Методика автоматизированного проектирования термоустойчивых радиотехнических устройств (РТУ) с учетом теплового режима / В. П. Алексеев // Научно-практический журнал «Новые исследования в разработке техники и технологий» – № 2. – 2017. – С. 26–40.
2. Храмцов, М. В. Устройства подогрева электронной компонентной базы радиоэлектронной аппаратуры в условиях отрицательных температур / М. В. Храмцов, А. М. Заболоцкий // Доклады ТУСУР, – 2022. – Том 25. – № 3 – С. 28–36.
3. Смирнов, В. И. Методы и средства измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов интегральных и интегральных схем / В. И. Смирнов, В. А. Сергеев, А. А. Гавриков // Журнал радиоэлектроники. – 2022. – № 1. – С. 22–27.
4. Zhechev, Y. S. The analysis of shielding effectiveness of the enclosure of an EMI-filter for a spacecra.ft power bus. / Y. S. Zhechev, A. M. Zabolotsky // International Journal of Circuits, Systems and Signal Processing. – 2021. – V. 15. – P. 470–475.
5. Разработка устройства защиты от сверхкоротких импульсов для цепей электропитания бортовой радиоэлектронной аппаратуры / В. П. Костелецкий, Е. Б. Черникова, Е. С. Жечев, А. М. Заболоцкий // Журнал радиоэлектроники – №8 – 2022 – С. 4–19.
6. Воздействие внешних условий на работоспособность радиоэлектронных средств (РЭС) / Д. В. Столбинский, П. П. Бем, В. А. Андреев, Д. В. Матвеев // Наукоемкие технологии в космических исследованиях Земли. – 2023. – Т. 15. – № 2. – С. 18–22.
7. Сучков, К. И. Развитие системных мероприятий управления качеством и надежностью электронной компонентной базы по направлениям сбора, обработки и анализа информации с этапов производства, применения и эксплуатации / К. И. Сучков, А. А. Невский, Ю. В. Рубцов // Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения. – 2021. – № 1. – С. 4-7.
8. Шелехова, О. Г. Оценка влияния температуры окружающей среды на показатели надёжности детектора банкнот / О. Г. Шелехова, В. Р. Кущенко, Д. В. Попадин // Вестник Донецкого национального университета. Серия Г: Технические науки. – 2019. – № 1. – С. 17-23. – EDN BOBLVX.
9. Кузьма, А. Ю. Отказы светодиодных приборов и способы повышения их надежности / А. Ю. Кузьма // Актуальные проблемы энергетики. СНТК. – № 73. – С. 453–457.
10. Никифоров, С. Н. Температура в жизни и работе светодиодов. Часть 1 / С. Н. Никифоров // Компоненты и технологии. – № 9. – 2005. – С. 140–146.
11. Срок службы сверхярких светодиодов. Причины отказов [Электронный ресурс]. – URL: http://led22.ru/ledstat/otkazisvetodiodov/otkazi-svetodiodov.html (дата обращения 11.07.2025).
12. Калякулин, А. Н. Решение проблемы перегрева силовых диодов на электровозе 2ЭС6 / А. Н. Калякулин, А. С. Тычков, А. Г. Старикова // Известия Тульского государственного университета. Технические науки. – 2024. – № 8. – С. 502-505. – EDN JAODYZ.
13. Ковалев, А. П. Факторы, определяющие надежность и долговечность конструкций бортовой радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов (информационное исследование). / А. П. Ковалев, В. П. Алексеев // Научно-методический электронный журнал «Концепт». – 2015. – Т.13. – С. 1006–1010.
14. Юрков, Н. К. Современное состояние исследований в области создания высоконадежной радиоэлектронной аппаратуры / Н. К. Юрков // НИКСС. – 2021. – №4(36). – С. 5–13.
15. Чумаков, В. Н. Методы моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборов / В. Н. Чумаков // Радиоэлектроника и информатика. – 1999. – №2. – С. 31–37.
16. Нечаев, В. Г. Пассивная компенсация температурной нестабильности сверхвысокочастотных диодных детекторов мощности / В. Г Нечаев, А. С. Загородний, А. М. Заболоцкий // Доклады ТУСУР. – 2023. – Том 26. – № 3 – С. 20–26.
17. Применение термического анализа при исследовании и экспертизе пожаров: Методические рекомендации. / Е. Д. Андреева, М. Ю. Принцева, С. А. Кондратьев, И. Д. Чешко. – СПб.: ФГУ ВНИИПО МЧС России, – 2010. – 275 с.
18. Дашко, Л. В. Экспертное исследование наиболее распространенных объектов пожарно-технической экспертизы с применением метода термического анализа: учебное пособие / Л. В. Дашко, В. Ю. Ключников. – М.: ЭКЦ МВД России, 2016. – 188 с.
19. Мартынов, И. А. Измерение теплового сопротивления кристалл–корпус микросхем и полупроводниковых приборов с использованием тепловизора / И. А. Мартынов // Известия СПбГЭТУ «ЛЭТИ». – 2016. – № 4. – С.3–6.
20. Сергеева, В. А. Способ измерения тепловых параметров полупроводниковых изделий в составе электронного модуля / В. А. Сергеева, Р. Г. Тарасов // Труды Международного симпозиума "Надежность и качество". – Т. 2. – Пенза, 2020. – С.183–185.
21. Боровиков, С. М. Расчет показателей надежности радиоэлектронных средств / С. М. Боровиков, И. Н. Цырельчук, Ф. Д. Троян. – Минск: БГУИР, 2010. – 68 с.
22. Метод вибродиагностики технического состояния конструкций электронных средств. / С. М. Лышов, С. У. Увайсов, В. В. Черноверская, Ф. К. Хань // Российский технологический журнал. – 2021. – Том 9. – №2. – С. 44–56.
23. Гойденко, В. К. Методика теплового контроля и диагностирования современных программно-аппаратных комплексов связи / В. К. Гойденко // Техника средств связи. – №1(145). – 2019. – С. 95–100.
24. Инженерная методика вибродиагностики конструкций бортовых радиоэлектронных средств / С. М. Лышов, С. У. Увайсов, В. В.Черноверская, Ф. К. Хань // Наукоемкие технологии. – 2020. – Том 21. – №2–3. – С. 17–29.
25. Искусственная нейронная сеть в задаче диагностики дефектов конструкций печатных узлов электронных средств. / С. У. Увайсов, В. В. Черноверская, С. М. Лышов, Увайсова А.С. // Наукоемкие технологии. – 2020. – Том 21. − №10. − С. 29−39.
26. Строгонов, А. В. Анализ методов расчета эксплуатационной интенсивности отказов / А. В. Строгонов, М. М. Белых, Д. В. Пермяков // Электроника: Наука, Технология, Бизнес. – 2022.– №1 (00212). – С. 122–129.
27. Жаднов, В. В. Сравнительный анализ методов оценки надежности полупроводниковых интегральных микросхем / В. В. Жаднов // Новые информационные технологии в автоматизированных системах. – 2013. – № 16 – С. 132–137.
28. Панычев, С. Н. Совершенствование принципов построения и методов оценки характеристик радиотехнических систем ближнего действия: дис. … д-р техн. наук: 05.12.04 / Панычев Сергей Николаевич; ВГТУ. – Воронеж, 2009. – 370 с.
29. Тихменев, А. Н. Модели и методика для анализа надежности отказоустойчивой бортовой радиоэлектронной аппаратуры / А. Н. Тихменев // Научные чтения по авиации, посвященные памяти Н.Е. Жуковского. – 2013. – № 1. – С. 410–414.
30. Алексеев, В. Ф. Моделирование тепловых полей электронных систем в среде ANSYS / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун, Д. В. Лихачевский // Big Data and Advanced Analytics. – 2020. – № 6-3. – С. 282–286.
31. Kofanov, Y. Evidence-Based Modeling of Thermal Processes in Printed Circuit Assemblies of Optoelectronic Devices / Y. Kofanov, N. Kuznetsov, S. Sotnikova // Quality Management, Transport and Information Security, Information Technologies (IT&QM&IS). – IEEE, 2021. – P. 1–4.
32. Thermal computer modeling of laser gyros at the design stage: a promising way to improve their quality and increase the economic efficiency of their development 50and production / Kuznetsov E., Y. Golyaev, Y. Kolbas [et al.] // Optical and Quantum Electronics. Switzerland: Springer, 2021. – Vol. 53, Is. 10. – Art. number 596. – P. 1–15.
REFERENCES LIST
1. Alekseev, V. P. Metodika avtomatizirovannogo proektirovaniia termoustoichivykh radiotekhnicheskikh ustroistv (RTU) s uchetom teplovogo rezhima / V. P. Alekseev // Nauchno-prakticheskii zhurnal «Novye issledovaniia v razrabotke tekhniki i tekhnologii» – № 2. – 2017. – S. 26–40.
2. Khramtsov, M. V. Ustroistva podogreva elektronnoi komponentnoi bazy radioelektronnoi apparatury v usloviiakh otritsatelnykh temperatur / M. V. Khramtsov, A. M. Zabolotskii // Doklady TUSUR, – 2022. – Tom 25. – № 3 – S. 28–36.
3. Smirnov, V. I. Metody i sredstva izmereniia teplovogo soprotivleniia poluprovodnikovykh priborov integralnykh i integralnykh skhem / V. I. Smirnov, V. A. Sergeev, A. A. Gavrikov // Zhurnal radioelektroniki. – 2022. – № 1. – S. 22–27.
4. Zhechev, Y. S. The analysis of shielding effectiveness of the enclosure of an EMI-filter for a spacecra.ft power bus. / Y. S. Zhechev, A. M. Zabolotsky // International Journal of Circuits, Systems and Signal Processing. – 2021. – V. 15. – P. 470–475.
5. Razrabotka ustroistva zashchity ot sverkhkorotkikh impulsov dlia tsepei elektropitaniia bortovoi radioelektronnoi apparatury / V. P. Kosteletskii, E. B. Chernikova, E. S. Zhechev, A. M. Zabolotskii // Zhurnal radioelektroniki – №8 – 2022 – S. 4–19.
6. Vozdeistvie vneshnikh uslovii na rabotosposobnost radioelektronnykh sredstv (RES) / D. V. Stolbinskii, P. P. Bem, V. A. Andreev, D. V. Matveev // Naukoemkie tekhnologii v kosmicheskikh issledovaniiakh Zemli. – 2023. – T. 15. – № 2. – S. 18–22.
7. Suchkov, K. I. Razvitie sistemnykh meropriiatii upravleniia kachestvom i nadezhnostiu elektronnoi komponentnoi bazy po napravleniiam sbora, obrabotki i analiza informatsii s etapov proizvodstva, primeneniia i ekspluatatsii / K. I. Suchkov, A. A. Nevskii, Iu. V. Rubtsov // Radioelektronnaia otrasl: problemy i ikh resheniia. – 2021. – № 1. – S. 4-7.
8. Shelekhova, O. G. Otsenka vliianiia temperatury okruzhaiushchei sredy na pokazateli nadezhnosti detektora banknot / O. G. Shelekhova, V. R. Kushchenko, D. V. Popadin // Vestnik Donetskogo natsionalnogo universiteta. Seriia G: Tekhnicheskie nauki. – 2019. – № 1. – S. 17-23. – EDN BOBLVX.
9. Kuzma, A. Iu. Otkazy svetodiodnykh priborov i sposoby povysheniia ikh nadezhnosti / A. Iu. Kuzma // Aktualnye problemy energetiki. SNTK. – № 73. – S. 453–457.
10. Nikiforov, S. N. Temperatura v zhizni i rabote svetodiodov. Chast 1 / S. N. Nikiforov // Komponenty i tekhnologii. – № 9. – 2005. – S. 140–146.
11. Srok sluzhby sverkhiarkikh svetodiodov. Prichiny otkazov [Elektronnyi resurs]. – URL: http://led22.ru/ledstat/otkazisvetodiodov/otkazi-svetodiodov.html (data obrashcheniia 11.07.2025).
12. Kaliakulin, A. N. Reshenie problemy peregreva silovykh diodov na elektrovoze 2ES6 / A. N. Kaliakulin, A. S. Tychkov, A. G. Starikova // Izvestiia Tulskogo gosudarstvennogo universiteta. Tekhnicheskie nauki. – 2024. – № 8. – S. 502-505. – EDN JAODYZ.
13. Kovalev, A. P. Faktory, opredeliaiushchie nadezhnost i dolgovechnost konstruktsii bortovoi radioelektronnoi apparatury kosmicheskikh apparatov (informatsionnoe issledovanie). / A. P. Kovalev, V. P. Alekseev // Nauchno-metodicheskii elektronnyi zhurnal «Kontsept». – 2015. – T.13. – S. 1006–1010.
14. Iurkov, N. K. Sovremennoe sostoianie issledovanii v oblasti sozdaniia vysokonadezhnoi radioelektronnoi apparatury / N. K. Iurkov // NIKSS. – 2021. – №4(36). – S. 5–13.
15. Chumakov, V. N. Metody modelirovaniia teplovykh povrezhdenii poluprovodnikovykh priborov / V. N. Chumakov // Radioelektronika i informatika. – 1999. – №2. – S. 31–37.
16. Nechaev, V. G. Passivnaia kompensatsiia temperaturnoi nestabilnosti sverkhvysokochastotnykh diodnykh detektorov moshchnosti / V. G Nechaev, A. S. Zagorodnii, A. M. Zabolotskii // Doklady TUSUR. – 2023. – Tom 26. – № 3 – S. 20–26.
17. Primenenie termicheskogo analiza pri issledovanii i ekspertize pozharov: Metodicheskie rekomendatsii. / E. D. Andreeva, M. Iu. Printseva, S. A. Kondratev, I. D. Cheshko. – SPb.: FGU VNIIPO MChS Rossii, – 2010. – 275 s.
18. Dashko, L. V. Ekspertnoe issledovanie naibolee rasprostranennykh obieektov pozharno-tekhnicheskoi ekspertizy s primeneniem metoda termicheskogo analiza: uchebnoe posobie / L. V. Dashko, V. Iu. Kliuchnikov. – M.: EKTs MVD Rossii, 2016. – 188 s.
19. Martynov, I. A. Izmerenie teplovogo soprotivleniia kristall–korpus mikroskhem i poluprovodnikovykh priborov s ispolzovaniem teplovizora / I. A. Martynov // Izvestiia SPbGETU «LETI». – 2016. – № 4. – S.3–6.
20. Sergeeva, V. A. Sposob izmereniia teplovykh parametrov poluprovodnikovykh izdelii v sostave elektronnogo modulia / V. A. Sergeeva, R. G. Tarasov // Trudy Mezhdunarodnogo simpoziuma Nadezhnost i kachestvo. – T. 2. – Penza, 2020. – S.183–185.
21. Borovikov, S. M. Raschet pokazatelei nadezhnosti radioelektronnykh sredstv / S. M. Borovikov, I. N. Tsyrelchuk, F. D. Troian. – Minsk: BGUIR, 2010. – 68 s.
22. Metod vibrodiagnostiki tekhnicheskogo sostoianiia konstruktsii elektronnykh sredstv. / S. M. Lyshov, S. U. Uvaisov, V. V. Chernoverskaia, F. K. Khan // Rossiiskii tekhnologicheskii zhurnal. – 2021. – Tom 9. – №2. – S. 44–56.
23. Goidenko, V. K. Metodika teplovogo kontrolia i diagnostirovaniia sovremennykh programmno-apparatnykh kompleksov sviazi / V. K. Goidenko // Tekhnika sredstv sviazi. – №1(145). – 2019. – S. 95–100.
24. Inzhenernaia metodika vibrodiagnostiki konstruktsii bortovykh radioelektronnykh sredstv / S. M. Lyshov, S. U. Uvaisov, V. V.Chernoverskaia, F. K. Khan // Naukoemkie tekhnologii. – 2020. – Tom 21. – №2–3. – S. 17–29.
25. Iskusstvennaia neironnaia set v zadache diagnostiki defektov konstruktsii pechatnykh uzlov elektronnykh sredstv. / S. U. Uvaisov, V. V. Chernoverskaia, S. M. Lyshov, Uvaisova A.S. // Naukoemkie tekhnologii. – 2020. – Tom 21. − №10. − S. 29−39.
26. Strogonov, A. V. Analiz metodov rascheta ekspluatatsionnoi intensivnosti otkazov / A. V. Strogonov, M. M. Belykh, D. V. Permiakov // Elektronika: Nauka, Tekhnologiia, Biznes. – 2022.– №1 (00212). – S. 122–129.
27. Zhadnov, V. V. Sravnitelnyi analiz metodov otsenki nadezhnosti poluprovodnikovykh integralnykh mikroskhem / V. V. Zhadnov // Novye informatsionnye tekhnologii v avtomatizirovannykh sistemakh. – 2013. – № 16 – S. 132–137.
28. Panychev, S. N. Sovershenstvovanie printsipov postroeniia i metodov otsenki kharakteristik radiotekhnicheskikh sistem blizhnego deistviia: dis. … d-r tekhn. nauk: 05.12.04 / Panychev Sergei Nikolaevich; VGTU. – Voronezh, 2009. – 370 s.
29. Tikhmenev, A. N. Modeli i metodika dlia analiza nadezhnosti otkazoustoichivoi bortovoi radioelektronnoi apparatury / A. N. Tikhmenev // Nauchnye chteniia po aviatsii, posviashchennye pamiati N.E. Zhukovskogo. – 2013. – № 1. – S. 410–414.
30. Alekseev, V. F. Modelirovanie teplovykh polei elektronnykh sistem v srede ANSYS / V. F. Alekseev, G. A. Piskun, D. V. Likhachevskii // Big Data and Advanced Analytics. – 2020. – № 6-3. – S. 282–286.
31. Kofanov, Y. Evidence-Based Modeling of Thermal Processes in Printed Circuit Assemblies of Optoelectronic Devices / Y. Kofanov, N. Kuznetsov, S. Sotnikova // Quality Management, Transport and Information Security, Information Technologies (IT&QM&IS). – IEEE, 2021. – P. 1–4.
32. Thermal computer modeling of laser gyros at the design stage: a promising way to improve their quality and increase the economic efficiency of their development 50and production / Kuznetsov E., Y. Golyaev, Y. Kolbas [et al.] // Optical and Quantum Electronics. Switzerland: Springer, 2021. – Vol. 53, Is. 10. – Art. number 596. – P. 1–15.
Загрузки
Опубликован
Выпуск
Раздел
Лицензия
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial» («Атрибуция — Некоммерческое использование») 4.0 Всемирная.
Статьи журнала «Вестник Донецкого университета. Серия 04. Технические науки» находятся в открытом доступе и распространяются в соответствии с условиями Лицензионного Договора с Донецким Государственным университетом, который бесплатно предоставляет авторам неограниченное распространение и самостоятельное архивирование.
