Анализ методов оценки надежности радиотехнических устройств
DOI:
https://doi.org/10.5281/zenodo.17394871Ключевые слова:
надежность, метод, вероятность безотказной работы, радиотехнические устройстваЛицензия
Аннотация
Проведен анализ методов оценки надежности радиотехнических устройств. Рост сложности современных радиотехнических устройств требует уточнения методов оценки их безотказности. Выявлены основные направления усовершенствования моделей надежности.
Скачивания
Библиографические ссылки
1. Воздействие внешних условий на работоспособность радиоэлектронных средств (РЭС) / Д. В. Столбинский, П. П. Бем, В. А. Андреев, Д. В. Матвеев // Наукоемкие технологии в космических исследованиях Земли. – 2023. – Т. 15. – № 2. – С. 18–22.
2. Столбинский, Д. В. Методы обеспечения надежности радиоэлектронных устройств / Д. В. Столбинский, П. П. Бем, В. А. Андреев // Наукоемкие технологии в космических исследованиях Земли. – 2022. – Т. 14. – № 6. – С. 35–39.
3. Боровиков, С. М. Расчет показателей надежности радиоэлектронных средств / С. М. Боровиков, И. Н. Цырельчук, Ф. Д. Троян. – Минск: БГУИР, 2010. – 68 с.
4. ГОСТР 27.303- 2021 (МЭК 60812:2018) Надежность в технике Анализ видов и последствий отказов [Электронный ресурс]. – URL: https://meganorm.ru/Data/758/75897.pdf (дата обращения 01.07.2025).
5. Гойденко, В. К. Методика теплового контроля и диагностирования современных программно-аппаратных комплексов связи / В. К. Гойденко // Техника средств связи. – №1(145). –2019. – С.95–100.
6. Application of Kohonen's Algorithm in Electrical Diagnostics of Analog Circuits of Radioelectronic Devices / V. T. Nguyen, V. V. Chernoverskaya, D. A. Quan [et al.] // 2022 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT) (Moscow, 09-11 June). – 2022. – DOI: 10.1109/MWENT55238.2022.9802380.
7. Миронов, Ю. К. О создании отраслевого технического центра по электрорадиоизделиям в ФНПЦ ФГУП ПО «Старт» / Ю. К. Миронов // Новые промышленные технологии. – 2008. – № 3. – С. 23-25.
8. Максаков, С. А. Методика оценки воздействия факторов внешней среды на показатели надёжности радиоэлектронных устройств на этапе проектирования / С. А. Максаков, А. Н. Симаков // Известия Тульского государственного университета. Технические науки. – 2021. – № 2. – С. 83-90. – EDN YMPLEK.
9. Кочкин, Н. Ф. Обзор основных методик оценки надежности / Н. Ф. Кочкин, И. О. Завелинский, И. Л. Лушпа // Труды международного симпозиума "Надежность и качество". – 2016. – Т. 1. – С. 116-118. – EDN WHDNNL.
10. ГОСТ 27.301–95. Надежность в технике. Расчет надежности. Основные положения. – Введ. 1997-01-01. – М.: Издательство стандартов, 1996. – 16 с.
11. Анализ методов оценки надежности оборудования и систем. Практика применения методов / Е. М. Лаврищева, Н. В. Пакулин, А. Г. Рыжов, С. В. Зеленов // Труды ИСП РАН. – Т. 30. – Вып. 3. – 2018. – С. 99–120.
12. Строгонов, А. В. Характеристики надежности современных ПЛИС / А. В. Строгонов // ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес. – 2019. – № 4. – С. 52–58.
13. Строгонов, А. В. Оценка долговечности БИС по результатам ускоренных испытаний / А. В. Строгонов // Технологии в электронной промышленности. – 2007. – № 3(15). – С. 90-96. – EDN MUDIVP.
14. Строгонов, А. В. Расчет количественных показателей надежности цифровых БИС с использованием справочника MIL-HDBK‑217F и программы MTBF Calculator фирмы ALD / А. Строгонов, С. А. Цыбин, П. С. Городков // Компоненты и технологии. – 2015. – № 1(162). – С. 104-110. – EDN THVGNN.
15. Строгонов, А. В. Расчет эксплуатационной интенсивности отказов у потребителя с помощью справочников MIL-HDBK-217F и АСРН2004 на примере ПЛИС / А. В. Строгонов // Компоненты и технологии. – 2018. – № 9(206). – С. 132-135. – EDN VMLAIQ.
16. Королев, П. С. Комплексный метод оценки показателей безотказности радиотехнических устройств космической аппаратуры / П. С. Королев // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. – 2021. – Т. 64. – № 4. – С. 316–328.
17. Королев, П. С. Оценка «коэффициента качества производства» для модели интенсивности отказов радиотехнических приборов непилотируемых автоматических космических аппаратов / П. С. Королев, В. В. Жаднов // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. – 2020. – Т. 63. –№ 3. – С. 264–277.
18. Жаднов, В. В. Сравнительный анализ методов оценки надежности полупроводниковых интегральных микросхем / В. В. Жаднов // Новые информационные технологии в автоматизированных системах. – 2013. – № 16. – С. 132-137. – EDN RPDEFP.
19. Иванов, И. А. Разработка макромоделей прогнозирования надежности функциональных узлов с учетом влияния температуры окружающей среды / И. А. Иванов, П. С. Королев, С. Н. Полесский // Системный администратор. – 2016. – № 11(168). – С. 80-85. – EDN WXKKVN.
20. Thermal computer modeling of laser gyros at the design stage: a promising way to improve their quality and increase the economic efficiency of their development and production / E. Kuznetsov, Y. Golyaev, Y. Kolbas [et al.] // Optical and Quantum Electronics Switzerland: Springer, 2021. – V. 53, №. 10. – Art. number 596. –P. 1–15. – DOI: 10.1007/s11082-021-03253-8
21. ГОСТ Р51901. 14–2005 (МЭК 61078:1991). Менеджмент риска. Метод структурной схемы надежности [Электронный ресурс]. – URL: https://ohranatruda.ru/upload/iblock/13c/4293853349.pdf (дата обращения 01.07.2025).
22. Давронбеков, Д. А. Методы оценки надежности цифровых элементов радиотехнических систем (монография) / Д. А. Давронбеков. – Т.: ТАТУ, 2017. – 168 с.
23. Тихменев, А. Н. Модели и методика для анализа надежности отказоустойчивой бортовой радиоэлектронной аппаратуры / А. Н. Тихменев // Научные чтения по авиации, посвященные памяти Н.Е. Жуковского. – 2013. – № 1. – С. 410-414. – EDN UINQGL.
24. Повышение надежности электронных элементов на основе объемного резервирования / В. А. Смагин, В. П. Бубнов, А. В. Забродин, Д. В. Бараусов // Информация и космос. – 2023. – № 1. – С. 56-66. – EDN TXZANC.
25. Михайлов, В. С. Интегральные оценки в теории надёжности. Введение и основные результаты / В. С. Михайлов, Н. К. Юрков. –Москва: Техносфера, 2020. – 152 c.
26. Гельфман, Т. Э. Построение математических моделей прогнозирования и оптимизации показателей надёжности радиоэлектронных систем методами регрессионного анализа / Т. Э. Гельфман, А. П. Пирхавка, М. С. Цаплин // Актуальные проблемы и перспективы развития радиотехнических и инфокоммуникационных систем ("Радиоинфоком-2023"): Сборник научных статей по материалам VII Международной научно-практической конференции (Москва, 20–24 ноября 2023 г.). – Москва: МИРЭА-Российский технологический университет, 2023. – С. 25-29. – EDN QCIYUP.
27. Шелехова, О. Г. Оценка влияния температуры окружающей среды на показатели надёжности детектора банкнот / О. Г. Шелехова, В. Р. Кущенко, Д. В. Попадин // Вестник Донецкого национального университета. Серия Г: Технические науки. – 2019. – № 1. – С. 17-23. – EDN BOBLVX.
28. Никольский, Ю. В. Прогнозирование надежности радиоэлектронных устройств на основе теплофизического моделирования / Ю. В. Никольский // Новые исследования в разработке техники и технологий. – 2015. – № 2. – С. 23-31. – EDN UYJQBT.
29. Храмцов, М. В. Устройства подогрева электронной компонентной базы радиоэлектронной аппаратуры в условиях отрицательных температур / М. В. Храмцов, А. М. Заболоцкий // Доклады ТУСУР. – 2022. – Т. 25. – № 3 – С.28–36.
30. Сучков, К. И. Развитие системных мероприятий управления качеством и надежностью электронной компонентной базы по направлениям сбора, обработки и анализа информации с этапов производства, применения и эксплуатации / К. И. Сучков, А. А. Невский, Ю. В. Рубцов // Радиоэлектронная отрасль: проблемы и их решения. – 2021. – № 1. – С. 4-7. – EDN NOVFIF.
31. Шлома, С. В. Температурное поле печатной платы при учете основных значимых физических процессов / С. В. Шлома // Исследования по баллистике и смежным вопросам механики: Сб. статей / Под ред. И.Б. Богоряда. – Томск: Изд-во Том. ун-та, 2002. – С.94-95.
32. Чумаков, В. Н. Методы моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборов / В. Н. Чумаков // Радиоэлектроника и информатика. – 1999. – №2. – С. 31–37.
33. Сергеев, В. А. Способ измерения тепловых параметров полупроводниковых изделий в составе электронного модуля / В. А. Сергеев, Р. Г. Тарасов // Труды международного симпозиума "Надежность и качество". – 2020. – Т. 2. – С. 183-185. – EDN WDYNNF.
34. Алексеев, В. Ф. Моделирование тепловых полей электронных систем в среде ANSYS / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун, Д. В. Лихачевский // Big Data and Advanced Analytics. – 2020. – № 6-3. – С. 282-286. – EDN VIMPYX.
35. Искусственная нейронная сеть в задаче диагностики дефектов конструкций печатных узлов электронных средств / С. У. Увайсов, В. В. Черноверская, С. М. Лышов, Л. К. Х. Фам, А. С. Увайсова // Наукоемкие технологии. – 2020. – Т. 21. − №10. − С.29−39.
36. Филиппов, Б. И. Расчёт надёжности аппаратуры гидроакустического канала связи / Б. И. Филиппов, Е. А. Малахова // Сборник научных трудов Новосибирского государственного технического университета. – 2015. – № 4(82). – С. 67-91. – DOI 10.17212/2307-6879-2015-4-67-91. – EDN VQWFYL.
37. Филиппов, Б. И. Расчет надежности радиотехнических систем без восстановления / Б. И. Филиппов, Т. Б. Труш // Сборник научных трудов Новосибирского государственного технического университета. – 2016. – № 1(83). – С. 47-68. – DOI 10.17212/2307-6879-2016-1-47-68. – EDN WAFPJX.
38. Zhechev, Y. The analysis of shielding effectiveness of the enclosure of an emi-filter for a spacecraft power bus / Y. Zhechev, A. Zabolotsky // International Journal of Circuits, Systems and Signal Processing. – 2021. – V. 15. – P. 470-475. – DOI 10.46300/9106.2021.15.51. – EDN AQXIMA.
39. Козинов, И. А. Метод оценки надёжности интегрированных радиоэлектронных систем управления космическими аппаратами на стадии эксплуатации / И. А. Козинов, А. В. Гришин // Наукоемкие технологии в космических исследованиях Земли. – 2020. – Т. 12. – № 3. – С. 13–19.
REFERENCES LIST
1. Vozdeistvie vneshnikh uslovii na rabotosposobnost radioelektronnykh sredstv (RES) / D. V. Stolbinskii, P. P. Bem, V. A. Andreev, D. V. Matveev // Naukoemkie tekhnologii v kosmicheskikh issledovaniiakh Zemli. – 2023. – T. 15. – № 2. – S. 18–22.
2. Stolbinskii, D. V. Metody obespecheniia nadezhnosti radioelektronnykh ustroistv / D. V. Stolbinskii, P. P. Bem, V. A. Andreev // Naukoemkie tekhnologii v kosmicheskikh issledovaniiakh Zemli. – 2022. – T. 14. – № 6. – S. 35–39.
3. Borovikov, S. M. Raschet pokazatelei nadezhnosti radioelektronnykh sredstv / S. M. Borovikov, I. N. Tsyrelchuk, F. D. Troian. – Minsk: BGUIR, 2010. – 68 s.
4. GOSTR 27.303- 2021 (MEK 60812:2018) Nadezhnost v tekhnike Analiz vidov i posledstvii otkazov [Elektronnyi resurs]. – URL: https://meganorm.ru/Data/758/75897.pdf (data obrashcheniia 01.07.2025).
5. Goidenko, V. K. Metodika teplovogo kontrolia i diagnostirovaniia sovremennykh programmno-apparatnykh kompleksov sviazi / V. K. Goidenko // Tekhnika sredstv sviazi. – №1(145). –2019. – S.95–100.
6. Application of Kohonens Algorithm in Electrical Diagnostics of Analog Circuits of Radioelectronic Devices / V. T. Nguyen, V. V. Chernoverskaya, D. A. Quan [et al.] // 2022 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT) (Moscow, 09-11 June). – 2022. – DOI: 10.1109/MWENT55238.2022.9802380.
7. Mironov, Iu. K. O sozdanii otraslevogo tekhnicheskogo tsentra po elektroradioizdeliiam v FNPTs FGUP PO «Start» / Iu. K. Mironov // Novye promyshlennye tekhnologii. – 2008. – № 3. – S. 23-25.
8. Maksakov, S. A. Metodika otsenki vozdeistviia faktorov vneshnei sredy na pokazateli nadezhnosti radioelektronnykh ustroistv na etape proektirovaniia / S. A. Maksakov, A. N. Simakov // Izvestiia Tulskogo gosudarstvennogo universiteta. Tekhnicheskie nauki. – 2021. – № 2. – S. 83-90. – EDN YMPLEK.
9. Kochkin, N. F. Obzor osnovnykh metodik otsenki nadezhnosti / N. F. Kochkin, I. O. Zavelinskii, I. L. Lushpa // Trudy mezhdunarodnogo simpoziuma Nadezhnost i kachestvo. – 2016. – T. 1. – S. 116-118. – EDN WHDNNL.
10. GOST 27.301–95. Nadezhnost v tekhnike. Raschet nadezhnosti. Osnovnye polozheniia. – Vved. 1997-01-01. – M.: Izdatelstvo standartov, 1996. – 16 s.
11. Analiz metodov otsenki nadezhnosti oborudovaniia i sistem. Praktika primeneniia metodov / E. M. Lavrishcheva, N. V. Pakulin, A. G. Ryzhov, S. V. Zelenov // Trudy ISP RAN. – T. 30. – Vyp. 3. – 2018. – S. 99–120.
12. Strogonov, A. V. Kharakteristiki nadezhnosti sovremennykh PLIS / A. V. Strogonov // ELEKTRONIKA: Nauka, Tekhnologiia, Biznes. – 2019. – № 4. – S. 52–58.
13. Strogonov, A. V. Otsenka dolgovechnosti BIS po rezultatam uskorennykh ispytanii / A. V. Strogonov // Tekhnologii v elektronnoi promyshlennosti. – 2007. – № 3(15). – S. 90-96. – EDN MUDIVP.
14. Strogonov, A. V. Raschet kolichestvennykh pokazatelei nadezhnosti tsifrovykh BIS s ispolzovaniem spravochnika MIL-HDBK‑217F i programmy MTBF Calculator firmy ALD / A. Strogonov, S. A. Tsybin, P. S. Gorodkov // Komponenty i tekhnologii. – 2015. – № 1(162). – S. 104-110. – EDN THVGNN.
15. Strogonov, A. V. Raschet ekspluatatsionnoi intensivnosti otkazov u potrebitelia s pomoshchiu spravochnikov MIL-HDBK-217F i ASRN2004 na primere PLIS / A. V. Strogonov // Komponenty i tekhnologii. – 2018. – № 9(206). – S. 132-135. – EDN VMLAIQ.
16. Korolev, P. S. Kompleksnyi metod otsenki pokazatelei bezotkaznosti radiotekhnicheskikh ustroistv kosmicheskoi apparatury / P. S. Korolev // Izvestiia vysshikh uchebnykh zavedenii. Priborostroenie. – 2021. – T. 64. – № 4. – S. 316–328.
17. Korolev, P. S. Otsenka «koeffitsienta kachestva proizvodstva» dlia modeli intensivnosti otkazov radiotekhnicheskikh priborov nepilotiruemykh avtomaticheskikh kosmicheskikh apparatov / P. S. Korolev, V. V. Zhadnov // Izvestiia vysshikh uchebnykh zavedenii. Priborostroenie. – 2020. – T. 63. –№ 3. – S. 264–277.
18. Zhadnov, V. V. Sravnitelnyi analiz metodov otsenki nadezhnosti poluprovodnikovykh integralnykh mikroskhem / V. V. Zhadnov // Novye informatsionnye tekhnologii v avtomatizirovannykh sistemakh. – 2013. – № 16. – S. 132-137. – EDN RPDEFP.
19. Ivanov, I. A. Razrabotka makromodelei prognozirovaniia nadezhnosti funktsionalnykh uzlov s uchetom vliianiia temperatury okruzhaiushchei sredy / I. A. Ivanov, P. S. Korolev, S. N. Polesskii // Sistemnyi administrator. – 2016. – № 11(168). – S. 80-85. – EDN WXKKVN.
20. Thermal computer modeling of laser gyros at the design stage: a promising way to improve their quality and increase the economic efficiency of their development and production / E. Kuznetsov, Y. Golyaev, Y. Kolbas [et al.] // Optical and Quantum Electronics Switzerland: Springer, 2021. – V. 53, №. 10. – Art. number 596. –P. 1–15. – DOI: 10.1007/s11082-021-03253-8
21. GOST R51901. 14–2005 (MEK 61078:1991). Menedzhment riska. Metod strukturnoi skhemy nadezhnosti [Elektronnyi resurs]. – URL: https://ohranatruda.ru/upload/iblock/13c/4293853349.pdf (data obrashcheniia 01.07.2025).
22. Davronbekov, D. A. Metody otsenki nadezhnosti tsifrovykh elementov radiotekhnicheskikh sistem (monografiia) / D. A. Davronbekov. – T.: TATU, 2017. – 168 s.
23. Tikhmenev, A. N. Modeli i metodika dlia analiza nadezhnosti otkazoustoichivoi bortovoi radioelektronnoi apparatury / A. N. Tikhmenev // Nauchnye chteniia po aviatsii, posviashchennye pamiati N.E. Zhukovskogo. – 2013. – № 1. – S. 410-414. – EDN UINQGL.
24. Povyshenie nadezhnosti elektronnykh elementov na osnove obieemnogo rezervirovaniia / V. A. Smagin, V. P. Bubnov, A. V. Zabrodin, D. V. Barausov // Informatsiia i kosmos. – 2023. – № 1. – S. 56-66. – EDN TXZANC.
25. Mikhailov, V. S. Integralnye otsenki v teorii nadezhnosti. Vvedenie i osnovnye rezultaty / V. S. Mikhailov, N. K. Iurkov. –Moskva: Tekhnosfera, 2020. – 152 c.
26. Gelfman, T. E. Postroenie matematicheskikh modelei prognozirovaniia i optimizatsii pokazatelei nadezhnosti radioelektronnykh sistem metodami regressionnogo analiza / T. E. Gelfman, A. P. Pirkhavka, M. S. Tsaplin // Aktualnye problemy i perspektivy razvitiia radiotekhnicheskikh i infokommunikatsionnykh sistem (Radioinfokom-2023): Sbornik nauchnykh statei po materialam VII Mezhdunarodnoi nauchno-prakticheskoi konferentsii (Moskva, 20–24 noiabria 2023 g.). – Moskva: MIREA-Rossiiskii tekhnologicheskii universitet, 2023. – S. 25-29. – EDN QCIYUP.
27. Shelekhova, O. G. Otsenka vliianiia temperatury okruzhaiushchei sredy na pokazateli nadezhnosti detektora banknot / O. G. Shelekhova, V. R. Kushchenko, D. V. Popadin // Vestnik Donetskogo natsionalnogo universiteta. Seriia G: Tekhnicheskie nauki. – 2019. – № 1. – S. 17-23. – EDN BOBLVX.
28. Nikolskii, Iu. V. Prognozirovanie nadezhnosti radioelektronnykh ustroistv na osnove teplofizicheskogo modelirovaniia / Iu. V. Nikolskii // Novye issledovaniia v razrabotke tekhniki i tekhnologii. – 2015. – № 2. – S. 23-31. – EDN UYJQBT.
29. Khramtsov, M. V. Ustroistva podogreva elektronnoi komponentnoi bazy radioelektronnoi apparatury v usloviiakh otritsatelnykh temperatur / M. V. Khramtsov, A. M. Zabolotskii // Doklady TUSUR. – 2022. – T. 25. – № 3 – S.28–36.
30. Suchkov, K. I. Razvitie sistemnykh meropriiatii upravleniia kachestvom i nadezhnostiu elektronnoi komponentnoi bazy po napravleniiam sbora, obrabotki i analiza informatsii s etapov proizvodstva, primeneniia i ekspluatatsii / K. I. Suchkov, A. A. Nevskii, Iu. V. Rubtsov // Radioelektronnaia otrasl: problemy i ikh resheniia. – 2021. – № 1. – S. 4-7. – EDN NOVFIF.
31. Shloma, S. V. Temperaturnoe pole pechatnoi platy pri uchete osnovnykh znachimykh fizicheskikh protsessov / S. V. Shloma // Issledovaniia po ballistike i smezhnym voprosam mekhaniki: Sb. statei / Pod red. I.B. Bogoriada. – Tomsk: Izd-vo Tom. un-ta, 2002. – S.94-95.
32. Chumakov, V. N. Metody modelirovaniia teplovykh povrezhdenii poluprovodnikovykh priborov / V. N. Chumakov // Radioelektronika i informatika. – 1999. – №2. – S. 31–37.
33. Sergeev, V. A. Sposob izmereniia teplovykh parametrov poluprovodnikovykh izdelii v sostave elektronnogo modulia / V. A. Sergeev, R. G. Tarasov // Trudy mezhdunarodnogo simpoziuma Nadezhnost i kachestvo. – 2020. – T. 2. – S. 183-185. – EDN WDYNNF.
34. Alekseev, V. F. Modelirovanie teplovykh polei elektronnykh sistem v srede ANSYS / V. F. Alekseev, G. A. Piskun, D. V. Likhachevskii // Big Data and Advanced Analytics. – 2020. – № 6-3. – S. 282-286. – EDN VIMPYX.
35. Iskusstvennaia neironnaia set v zadache diagnostiki defektov konstruktsii pechatnykh uzlov elektronnykh sredstv / S. U. Uvaisov, V. V. Chernoverskaia, S. M. Lyshov, L. K. Kh. Fam, A. S. Uvaisova // Naukoemkie tekhnologii. – 2020. – T. 21. − №10. − S.29−39.
36. Filippov, B. I. Raschet nadezhnosti apparatury gidroakusticheskogo kanala sviazi / B. I. Filippov, E. A. Malakhova // Sbornik nauchnykh trudov Novosibirskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta. – 2015. – № 4(82). – S. 67-91. – DOI 10.17212/2307-6879-2015-4-67-91. – EDN VQWFYL.
37. Filippov, B. I. Raschet nadezhnosti radiotekhnicheskikh sistem bez vosstanovleniia / B. I. Filippov, T. B. Trush // Sbornik nauchnykh trudov Novosibirskogo gosudarstvennogo tekhnicheskogo universiteta. – 2016. – № 1(83). – S. 47-68. – DOI 10.17212/2307-6879-2016-1-47-68. – EDN WAFPJX.
38. Zhechev, Y. The analysis of shielding effectiveness of the enclosure of an emi-filter for a spacecraft power bus / Y. Zhechev, A. Zabolotsky // International Journal of Circuits, Systems and Signal Processing. – 2021. – V. 15. – P. 470-475. – DOI 10.46300/9106.2021.15.51. – EDN AQXIMA.
39. Kozinov, I. A. Metod otsenki nadezhnosti integrirovannykh radioelektronnykh sistem upravleniia kosmicheskimi apparatami na stadii ekspluatatsii / I. A. Kozinov, A. V. Grishin // Naukoemkie tekhnologii v kosmicheskikh issledovaniiakh Zemli. – 2020. – T. 12. – № 3. – S. 13–19.
Загрузки
Опубликован
Выпуск
Раздел
Лицензия
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial» («Атрибуция — Некоммерческое использование») 4.0 Всемирная.
Статьи журнала «Вестник Донецкого университета. Серия 04. Технические науки» находятся в открытом доступе и распространяются в соответствии с условиями Лицензионного Договора с Донецким Государственным университетом, который бесплатно предоставляет авторам неограниченное распространение и самостоятельное архивирование.
